MMW和Sub-THz50Ω增益压缩和负载拉动测量

介绍

Maury Microwave拥有超过十年的体验,实现和支持50到110 GHz之间的毫米波(MMW)设备表征系统。这些系统围绕Maury专利的专利自动化波导调谐器对于非50欧姆测量,以及Maury的测量和建模设备表征软件套件。此外,Maury还集成了商业矢量网络分析仪(VNA),信号发生器,频谱分析仪,噪声系数分析仪,MMW频率扩展器和相关组件以及附件,以完成DUT参考平面的系统和半自动设备测量。

完全集成的MMW设备表征系统可以包括以下测量功能:小信号S参数,噪声参数提取的源拉动(FMIN,Gamma_Opt,RN)和电源,增益,效率和互调失真的大信号负载拉动(IMD使用可选的第二输入源和分析仪)。

在系统构想时考虑探针站集成,作为各种组件(MMW扩展器,下变频器,开关,自动衰减器,调谐器,调谐器......)需要安装在探测器压板上,以及平衡无振动操作。Maury Integations与大多数级联(包括SUSS),MPI,Signatone,Semiprobe和第三方探针站兼容。

MMW设备表征系统可用于WR15(50-75 GHz),WR12(60-90 GHz)和WR10(75-110 GHz)配置。

毫米波(MMW)设备表征系统

在MMW和子THz频率下需要大信号测量

由于几个原因,在毫米波和子THz频率下执行设备表征测量可能是具有挑战性的。首先,当在110GHz和1.1THz之间使用波导扩展器时,难以在DUT参考平面上实现准确和可重复的功率控制,因为扩展器通常输出固定功率。但是,控制传送到DUT的输入的功率对于设置设备的操作条件并表征其对功率的性能,例如大信号特性增益压缩。其次,载荷拉动,这意味着将呈现给DUT的负载阻抗改变为任意的非50Ω值,这是难以以高于110GHz以上的无源载荷拉伸阻抗调谐器,甚至在它们呈现高的能力中受到限制在DUT参考平面上不匹配。

晶体管设计人员需要正确表征和模拟其设备的高速行为所需的负载拉动测量。对于电路设计人员,负载拉动测量用于确定理想的匹配条件和优化性能,在DB的每个分数都很重要。负载拉动还可用于测试系统,例如新的MM波雷达,其中需要接触和过度的性能测试。

启用MMW和Sub-THz50Ω增益压缩和负载拉动测量

MMW-Studio MMW和Sub-THz特征软件,由Maury微波和Vertigo Technologies,软件套件设计用于使用波导扩展模块与4端口VNA一起使用,并添加准确和可重复的高分辨率功率控制。该软件能够在DUT参考平面上直接测量向量校正功率,以及控制传送到DUT的功率。这样做允许工程师在可用水平上执行增益压缩功率扫描测量,并在任何任意功率水平下执行S参数测量。

MMW-Studio LP是一个软件加载项,当与向量调制单元(VMU)结合使用时,可以控制传送到DUT的输入和输出的信号的幅度和相位。这使工程师能够设置任意阻抗,或者执行有源负载拉动测量,其中通过控制反射的A2波来实现给DUT的反射幅度和满足γ= A2 / B2来实现。


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应用笔记和数据表

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